Решения для диагностики и материаловедения

Серия Q250/Q750CA

С координатным столом и специальными решениями

Q250/Q750CA

	Q250 CA	Q750 CA
Диапазон тестовой нагрузки	0,5 — 250 кг (4,9 — 2450 Н)	3 — 750 кг (29,4 — 7358 Н)
Тестовая высота /глубина горловины	215/260 мм	215/260 мм
Регулировка по высоте	Поворотное колесо на шпинделе с направляющими на безлюфтовых подшипниках, вкл. устройство фиксации положения
Программное обеспечение	Qpix CONTROL
Предметный стол	координатный моторизованный 170 x 250 мм
Перемещение стола X/Y	260 x 166 мм
Вес основной машины	180 кг	180 кг
Макс. вес образца	100 кг
Электропитание	230~1/N/PE, 110~1/N/PE
Максимальная потребляемая мощность	~ 360 Вт
Аксессуары / Опции:
Общее	Объективы (2,5x, 4x, 10x, 20x, 40x), индентор (Виккерс, Роквелл, Бринелль), поворотный или фиксированный вертикальный держатель, предметные столики, стол под твердомер
Револьверная головка	6-позиционная, моторизованная (уменьшает тестовую высоту на 30 мм)

координатным столом и специальными решениями

Автоматизированные измерения с помощью электронной системы приложения нагрузки в следующих диапазонах:
Q250CA: 0,5 — 250 кгс
Q750CA: 3 — 750 кгс
Регулировка высоты с помощью поворотного колеса на шпинделе с направляющими на безлюфтовых подшипниках, вкл. устройство фиксации положения.
Полностью автоматический координатный стол с высоко-прецизионным приводом позиционирования.
Автоматическая регулировка яркости подсветки в зависимости от материала и поверхности образца.
Инновационный метод анализа отпечатка через встроенный микроскоп с модулем отраженного света (только для метода HBW10/3000).