Серия Q250/Q750/Q3000
Q250M, Q750M, Q3000M, Q250E, Q750E, Q3000E | Q250MS Q750MS Q3000MS | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Ниже приведены отличительные особенности стандартных моделей твердомеров Qness Q250/Q750/Q3000:
Твердомеры Бринелля серии Q250/Q750/Q3000
- Автоматизированные измерения с помощью электронной системы приложения нагрузки в следующих диапазонах:
- Q250: 0,5 — 250 кгс
- Q750: 3 — 750 кгс
- Q3000: 10 — 3000 кгс
- Удобный, понятный и дружелюбный пользовательский интерфейс и 12” сенсорный дисплей обеспечивают комфортную работу с высокой производительностью.
- Автоматизированный и ручной анализ отпечатка.
- Автоматическая регулировка подсветки.
- Дополнительное кольцевое освещение для темного поля (опция).
- Регулировка тестовой высоты за счет перемещения блока нагружения по оси Z, позволяет удобно работать на большом столе с тяжелыми и крупногабаритными образцами.
- Запатентованное автоматическое распознавание образца (версия E), переключение скорости перемещения.
- Поворотный прижим для измерений в труднодоступных местах образцов сложной конфигурации (патент).
- Электронная 6-позиционная револьверная головка для экономии времени при частой смене методов измерений (опция).
- Опция – управление с внешнего персонального компьютера, ПО QpixControl M.
- Инновационный метод анализа отпечатка через встроенный микроскоп с модулем отраженного света (только для метода HBW10/3000).
Инновационный метод Qness для анализа отпечатка через встроенный микроскоп с модулем отраженного света
Для мягких материалов с твердостью до примерно 250 единиц HB при тестах по методу НВ 10/3000 искажения (выпуклости) всегда очень значительны по краям. Правильная идентификация диаметра отпечатка с помощью камеры и объектива затруднена (левый рисунок) и может привести к погрешности измерений до 10 единиц по Бринеллю.
С помощью дополнительного кольцевого освещения, которое может быть использовано при измерении твердости материалов до примерно 250 HB, многие производители уже реализовали данный механизм коррекции, в том числе Qness.
Новейшее решение с использованием микроскопа с модулем отраженного света вместо простого объектива, разработанное компанией Qness, позволит значительно точнее производить оценку отпечатка в будущем.
Данное решение может быть использовано для более широкого диапазона материалов различной твердости (100-650 HB) и является важной вехой в развитии систем оценки диаметра отпечатка при измерении твердости (правый рисунок).
Данное решение, может быть применено на стандартных твердомерах Qness и в спецрешениях Qness, если используется только один метод HBW 10/3000.